Zemāk redzamajos iezīmētajos laukos esat ievadījis vērtības, kas satur nederīgas rakstzīmes. Lūdzu, pārskatiet savu izvēli, izmantojot tikai derīgas rakstzīmes.

Iespējams, produkts var neatbilst precīzi meklētajam

Jūs iepriekš iegādājāties šo produktu. Skatīt pasūtījumu vēsturi

 
 

100D

Test Accessory, Connector, 50 ohm, Beehive EMC Probe Amplifiers, 100

BEEHIVE ELECTRONICS 100D
×
×

Attēls ir tikai kā piemērs. Lūdzu, skatiet produkta aprakstu.

Ražotāja detaļas Nr.:
100D
Pasūtījuma kods:
2806226
Produktu klāsts
100
Tehnisko datu lapa:
100D   Datasheet
Skatiet visus tehniskos dokumentus

Produktu klāsta atlasītājs (100)

Skatīt visus šī veida izstrādājumus

Informācija par produktiem

Vai vēlaties skatīt līdzīgus produktus? Vienkārši zemāk atlasiet atbilstošos atribūtus un nospiediet pogu ×


:
Connector

:
-

:
50ohm

:
-

:
Beehive EMC Probe Amplifiers

:
100

Atrast līdzīgus produktus Izvēlieties un mainiet iepriekš redzamos atribūtus, lai atrastu līdzīgus izstrādājumus.

Tehniskā dokumentācija (2)

CAD lejupielādes

×

Noteikumi un nosacījumi

CAD Models - Notice
CAD Models and drawings are provided to you on a revocable limited licence for your internal use only but remain the property of the manufacturer who retain all intellectual property rights and ownership. They are provided to assist you in decision making and as design guide but are not guaranteed to be error free, accurate or up to date and is not intended to be taken as advice.
Use of these CAD models and other options provided are downloaded and used entirely at your own risk and by continuing you confirm acceptance of the above.

Piekrist Atcelt

Produktu pārskats

The 100D from Beehive Electronics is a 100 series EMC probe EMC probe. It is an electric field probe, unlike the 100A/B/C. This probe has best spatial resolution of all the probes. However, because it is an electric field probe, it does not offer the common mode rejection that the magnetic field probes have. It is designed for identifying and fixing EMC problems. The 100D stub probe with its narrow tip offers the highest spatial resolution. It is ideally suited to tasks such as tracking EMC sources down to the individual pins of an IC. Because of the planar construction of the probes, even the large loops are only 0.11" thick, allowing the probe to be inserted into narrow seams and gaps.
  • Integrated electrostatic shield in the loop probe eliminates common mode pick-up
  • Multiple loop sizes offer optimum sensitivity and spatial resolution at different frequencies
  • Probe dimensions optimized for access to tight spaces
  • Stub, 0.08inch tip diameter
  • Stub probe and sensitive to electric fields
  • Can be driven by a signal source to generate fields for electromagnetic susceptibility testing
  • Probe can be used to measure the signals present on an operational PC board
  • Length is 6.35inch (excluding connector) and probe tip thickness is 0.11"

Pieejams iepriekšējai pasūtīšanai

Vairāk krājumi būs pieejami atbilstoši piegādātāja izpildes laikam, kas ir aptuveni 22.7.3

Ņemot vērā tirgus apstākļus, piegādes termiņi ir tikai vispārīgas norādes, un tie var tikt mainīti neilgā laikā

Paziņot, kad atkal ir krājumā

80,80 €

Cena nav pieejama. Lūdzu, sazinieties ar klientu apkalpošanas centru.

Cena par:
Each
Vairāki: 1 Minimāli: 1
Daudzums Cena Jūsu cena
 
 
1+ 80,80 €
Veicināšanas cena
Līgumcena
Tiešsaistes pasūtījumu cena
Tiešsaistes pasūtījumu līgumcena
 
5+ 79,18 €
Veicināšanas cena
Līgumcena
Tiešsaistes pasūtījumu cena
Tiešsaistes pasūtījumu līgumcena
 
10+ 77,57 €
Veicināšanas cena
Līgumcena
Tiešsaistes pasūtījumu cena
Tiešsaistes pasūtījumu līgumcena
 
20+ 75,95 €
Veicināšanas cena
Līgumcena
Tiešsaistes pasūtījumu cena
Tiešsaistes pasūtījumu līgumcena
 
 
 

Cena nav pieejama. Lūdzu, sazinieties ar klientu apkalpošanas centru.

No longer stocked:: No Longer Manufactured::
Ievietot iepirkumu grozā Ievietot iepirkumu grozā Iepriekšpasūtīt
Piev.
Ierobežots vienums
Pievienot daļas nr. /rindas piezīmi
Kopējā cena:
Kopējā cena: ( )
Kopējā cena: --